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SAE J2433 Equidistant Crush Measurement Techniques

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 17:14:45  浏览:9725   来源:标准资料网
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Product Code:SAE J2433
Title:Equidistant Crush Measurement Techniques
Issuing Committee:Accident Investigation And Reconstruction Practices Cmte
Scope: This SAE Recommended Practice was developed to provide a guideline for the collection of vehicle crush data for various damaged based reconstruction computer programs that assume a homogeneous stiffness and use six equidistant crush measurements. The basic techniques for vehicle damage data collection and the basic interpretations shown in this document are not to be considered all inclusive. For instance, it does not include techniques for measuring top or undercarriage damage.
Rationale: This SAE Recommended Practice was developed to provide a guideline for the collection of vehicle crush data for various damaged based reconstruction computer programs that assume a homogeneous stiffness and use six equidistant crush measurements. The basic techniques for vehicle damage data collection and the basic interpretations shown in this document are not to be considered all inclusive. For instance, it does not include techniques for measuring top or undercarriage damage.
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【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents-Blankdetailspecification:CWmagnetronsforRFheatingorcookingapplications
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范:射频(RF)加热或烹调用CW磁控管
【标准号】:BSEN136002-1979
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1979-01-15
【实施或试行日期】:1979-01-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:空白格式;烹调;详细规范;电气工程;电子管;电子工程;电子设备及元件;频率;协调;加热;高频;检验;磁控管;磁铁;作标记;微波管;性能;功率输出;质量;质量评定;质量评定系统;质量保证体系;射频;射频设备;存储;温度;试验;测试要求;重量
【英文主题词】:Blankforms;Cooking;Detailspecification;Electricalengineering;Electrontubes;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Frequencies;Harmonization;Heating;Highfrequencies;Inspection;Magnetrons;Magnets;Marking;Microwavetubes;Performance;Poweroutput;Quality;Qualityassessment;Qualityassessmentsystems;Qualityassurancesystems;Radiofrequencies;Radiofrequencyapparatus;Storage;Temperature;Testing;Testingrequirements;Weights
【摘要】:Ratings,characteristicsandinspectionrequirementstoincludeasmandatoryrequirementsinaccordancewithBSEN136000.
【中国标准分类号】:L37
【国际标准分类号】:31_100
【页数】:22P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用)
英文名称:Sectional specification for semiconductor integrated circuits, excluding hybrid circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
替代情况:被GB/T 12750-2006代替
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1991-03-21
实施日期:1991-01-01
首发日期:1991-03-21
作废日期:2007-02-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:电子标准化所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1991-01-01
页数:平装16开, 页数:20, 字数:35000
适用范围

本分规范适用于已封装的半导体集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路。

前言

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学